測定
測定原理：デュアルビーム分光光度計/測色計
測定ジオメトリー：
- 反射：d/8°（拡散照明・8°受光）
- 全透過：d/8°
- 通常透過：d/0°
分光光学系 ：
分光方式：ポリクロメーター×2基
検出器：512素子ダイオードアレイ（各ポリクロメーター）
回折格子：高分解能 凹面ホログラフィックグレーティング
積分球直径：152 mm（6 インチ）
積分球コーティング：
- 球内面：Spectraflect™
- ポートプレート／鏡面反射除去ドア：Duraflect™
ポートサイズ/測定範囲：
- 定開口部（反射モード：RSIN / RSEX）
- LAV（大面積）：照射 25 mm / 測定 19 mm
- MAV（中面積）：照射 13 mm / 測定 9 mm
- SAV（小面積）：照射 7 mm / 測定 4 mm
- 測定開口部（透過モード：全透過 TTRAN）
- LAV：照射 25 mm / 測定 17.4 mm
- MAV：照射 25 mm / 測定 13.2 mm
- SAV：照射 25 mm / 測定 11.6 mm
- 測定開口部（透過モード：通常透過 RTRAN）
- LAV：照射 17 mm / 測定 17 mm
- MAV：照射 17 mm / 測定 17 mm
- SAV：照射 17 mm / 測定 17 mm
LAV / MAV / SAV：自動切替
鏡面反射成分 ： 含む （RSIN） 除く （RSEX）
測定波長範囲：350～1050 nm（可視域＋近赤外域）
波長分解能：2 nm未満
有効帯域幅：5 nm（等価三角帯域）
測定間隔：5 nm
測光範囲：0～150 %
光源： パルスキセノンランプ ×3 （UV領域で校正・制御）
自動UV 制御 ：
- 400 nmカットオフ（標準）
- 420 nmカットオフ（オプション）
透過モード： 全透過（TTRAN） 及び 通常透過（RTRAN）
透過測定室 ：
- 構造：3面開口
- 寸法：102 mm（奥行）× 356 mm（幅）× 165 mm（高さ）
規格適合
- 反射測定：CIE 15:2004、ISO 7724/1、ASTM E1164、DIN 5033、Teil 7およびJIS Z 8722 条件C
- 透過測定：CIE 15:2004、ASTM E1164、DIN 5033 Teil 7およびJIS Z 8722条件E、 ASTM D1003（ヘイズ測定：Procedure B）準拠
標準トレーサビリティ： CIE Publication 44 および ASTM E259 に基づき、
NIST（米国標準技術研究所）にトレーサブル